Спектрометр с рентгеновским излучением NEX DE VS

EDXRFXRFдля контроля

высокопроизводительный настольный элементный EDXRF-анализатор с малым (переменным) пятном, новый Rigaku NEX DE VS обеспечивает широкий элементный охват с простым в освоении программным обеспечением QuantEZ на базе Windows®. Мелкоточечный анализ, от натрия (Na) до урана (U), практически в любой матрице - от твердых тел, тонких пленок и сплавов до порошков, жидкостей, суспензий и тонких пленок. XRF-элементный анализ в полевых условиях, на заводе или в лаборатории Специально разработанный и спроектированный для тяжелого промышленного использования, будь то на заводе или в удаленных полевых условиях, превосходный аналитический потенциал, гибкость и простота использования NEX DE повышают его привлекательность для постоянно расширяющегося спектра применений, включая разведку, исследования, контроль RoHS, образование, а также промышленный и производственный мониторинг. Независимо от того, требуется ли базовый контроль качества (QC) или его более сложные варианты - такие как аналитический контроль качества (AQC), обеспечение качества (QA) или статистический контроль процессов типа Six Sigma - NEX DE является надежным высокопроизводительным выбором для рутинного элементного анализа методом XRF. Особенности Анализ ₁₁Na до ₉₂U неразрушающим способом размер пятна 1, 3 и 10 мм, выбирается программно Визуализация с высоким разрешением для точного позиционирования образца Мощное программное обеспечение QuantEZ на базе Windows® Твердые вещества, жидкости, сплавы, порошки и тонкие пленки рентгеновская трубка 60 кВ для широкого элементного охвата Детектор FAST SDD® для превосходной статистики подсчета Многочисленные автоматические фильтры трубки для повышения чувствительности Непревзойденное соотношение производительности и цены Дополнительное программное обеспечение для определения фундаментальных параметров RPF-SQX Дополнительное программное обеспечение для определения фундаментальных параметров без стандарта