Дифрактометр с рентгеновским излучением XtaLAB Synergy-ED

лабораторный

Полностью интегрированный электронный дифрактометр Система, с которой любой рентгеновский кристаллограф найдет интуитивно понятным управление XtaLAB Synergy-ED - новый полностью интегрированный электронный дифрактометр, создающий бесшовный рабочий процесс от сбора данных до определения структуры трехмерных молекулярных структур. Ключевой особенностью этого продукта является то, что он предоставляет исследователям интегрированную платформу, обеспечивающую легкий доступ к электронной кристаллографии. XtaLAB Synergy-ED - это система, с которой любой рентгеновский кристаллограф найдет интуитивно понятное управление без необходимости становиться экспертом в области электронной микроскопии. XtaLAB Synergy-ED - это результат инновационного сотрудничества, направленного на синергетическое объединение наших основных технологий: Высокоскоростной и высокочувствительный детектор Rigaku для подсчета фотонов (HyPix-ED) и современную программную платформу для управления прибором и анализа монокристаллов (CrysAlisPro for ED), а также многолетний опыт и лидерство компании JEOL в разработке и производстве просвечивающих электронных микроскопов. XtaLAB Synergy-ED был разработан для удовлетворения растущей потребности в изучении все более мелких образцов в структурных исследованиях. В рентгеновской кристаллографии наименьший возможный размер кристалла составляет 1 микрон, и то только при использовании самых ярких источников рентгеновского излучения и малошумящих детекторов. Однако в последние годы растет потребность в структурном анализе веществ, образующих только микрокристаллы - кристаллы размером всего несколько сотен нанометров или меньше. В последние годы был разработан новый аналитический метод MicroED, который использует дифракцию электронов на электронном микроскопе TEM для измерения трехмерных молекулярных структур нанокристаллических материалов.