＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... Обзор
Микроскоп для материалов Visoria M разработан для рутинной инспекции и анализа материалов в областях металлов, электроники, полимеров, а также для лабораторий НИОКР и контроля качества. Он сочетает эргономичные элементы управления, кодированное ...
Увеличение : 10 unit - 250 000 unit
Длина: 617 mm
... Разработанный как логическое продолжение оптической стереомикроскопии, TM4000 III является прибором начального уровня для сканирующей электронной микроскопии. Он позволяет получать изображения образцов в кратчайшие сроки с хорошим разрешением, глубиной ...
... Универсальность и высокое пространственное разрешение сочетаются с автоматизацией при использовании FE-SEM серии JSM-IT810. Автоматизация получения изображений и EDS-анализа без кодирования встроена для упрощения и повышения эффективности рабочего процесса. Новые ...
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки