＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... рамки базовых предустановленных условий и рецептов. Простота использования этой системы открывает новые возможности для исследования материалов, их разработки и области, выходящие за рамки нашего воображения. Обзор Модель ...
Hitachi High-Technologies
Пространственное разрешение: 2,1, 1,6 nm
... микроотбора образцов и система Triple Beam обеспечивают высококачественную подготовку образцов для ТЭМ и атомно-зондовых исследований. Ионное фрезерование и наблюдение при нормальном падении в режиме реального времени ...
Hitachi High-Technologies
Пространственное разрешение: 60, 4, 2,8, 3,5 nm
... Системы FIB-SEM стали незаменимым инструментом для характеризации и анализа новейших технологий и высокоэффективных наноразмерных материалов. Постоянно растущий спрос на сверхтонкие ламели ТЕМ без артефактов при FIB-обработке требует ...
Hitachi High-Technologies
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось