Оптический микроскоп DM12000 M

для лабораторийдля контроляпрямой

Улучшите процесс принятия решений по качеству продукции и сэкономьте время, получив более глубокое представление об образцах с помощью оптических инспекционных систем DM8000 M и DM12000 M. Эти инспекционные микроскопы обеспечивают быстрый и надежный контроль и анализ таких материалов, как полупроводники и пластины, позволяя вам осуществлять контроль качества и быстро обнаруживать дефекты. Выявляйте скрытые детали Выявляйте дефекты и быстро проводите обзор образцов для улучшения анализа и принятия решений. Оптимизируйте свои методы работы Автоматизация и удобное управление сводят к минимуму необходимость в настройках, экономя драгоценное время в процессе инспекции. Поддерживайте комфорт пользователя в безопасной и контролируемой среде Работайте в расслабленной рабочей позе, обеспечивая оптимальный комфорт в течение всего процесса проверки, что способствует повышению производительности. Быстрая визуализация структур и дефектов Обнаруживайте и анализируйте различные структуры и дефекты, такие как царапины и загрязнения, на ваших образцах. Выбирайте из множества методов освещения и контрастирования, таких как яркое поле, темное поле, поляризация, дифференциальный интерференционный контраст (DIC), флуоресценция (Fluo) и инфракрасное излучение (IR), которые помогут вам быстро и надежно провести инспекцию. Улучшите разрешение с помощью ультрафиолетового (УФ) света. Получите дополнительную информацию о поверхности с помощью косого освещения. Сочетайте его с ультрафиолетовым, чтобы еще больше повысить контрастность. Быстрее находите дефекты при анализе изломов благодаря более высокому контрасту, поддерживаемому передовой техникой темного поля с объективами Plan Fluotar (20x, 50x и 100x). Экономьте время благодаря быстрому обзору образца Быстро выявляйте макродефекты и структуры в образцах материалов с помощью дополнительного объектива 0,7x Macro.