Измерительный прибор для спектрометров DSR300

для контролянапряжениянастольный

Микро-нано система измерения спектрального отклика серии DSR300 предназначена для низкоразмерных материалов, обеспечивая высокоточное спектральное сканирование и фототоковое сканирование. благодаря 40-метровому пятну обнаружения система может измерять минимальный размер образца 100 мкм. Сверхвысокостабильный источник света обеспечивает высокую точность; несколько источников света могут быть интегрированы в систему для измерения различных детекторов. Дружественное программное обеспечение легко использовать и автоматически контролировать устройство для работы. Функция： ■ Спектральная чувствительность ■ Внешняя квантовая эффективность ■ Кривая ИТ напряжения смещения ■ Картирование LBIC ■ Тест линейности отклика Основной технический параметр Источник света Ксеноновый источник света Спектральный диапазон: 250 - 1800 нм Нестабильность: ＜ 1% Суперконтинуумный источник света Спектральный диапазон: 400 - 2400 нм Частота: 0,01 - 200 МГц Ширина импульса: 100 пс Лазер CW Дополнительная длина волны: 405 нм, 532 нм, 633 нм, 808 нм, 980 нм; Нестабильность: ＜ 1% Импульсный лазер Дополнительная длина волны: 375 нм, 405 нм, 488 нм, 785 нм, 976 нм; длительность импульса: 100 пс Частота: 1-20 МГц Микролинза объектив 10x (стандартный) Рабочее расстояние＞17 мм NA: 0.42 Спектральный диапазон: 350 - 800 нм 50-кратная объективная линза Рабочее расстояние＞17 мм NA: 0,42 Спектральный диапазон: 480 - 1800 нм 50-кратная ультрафиолетовая объективная линза Рабочее расстояние＞12 мм NA: 0,42 Спектральный диапазон: 240 - 500 нм 40-кратная отражающая объективная линза Рабочее расстояние＞7,8 мм NA: 0,5 Спектральный диапазон: 200 нм - 20 мкм Блок сбора данных Усилитель с блокировкой Частота: 20 Гц - 1 КГц Дрейф: ＜ 0,1°/℃ ниже 10 кГц Режим ввода напряжения или тока Чувствительность от 1 нВ до 1 В по полной шкале Коэффициент усиления по току 106 или 108 В/А Динамический запас >100 дБ Дисплей: X, Y, R,θ