Тестер толщина SK-iFTM

для медицинских снимковдля использования в медицине

Монитор толщины пленки - это метрологический инструмент, позволяющий визуализировать распределение толщины прозрачной многослойной пленки. Он может визуализировать распределение толщины пленки с разрешением 0,1 нм с помощью спектроскопической рефлектометрии. Визуализация равномерности толщины пленки Измерьте толщину/качество пленки в поле зрения микроскопа, покажите 3D-распределение Разрешение по толщине пленки : <0,1 нм Хорошее разрешение по толщине, эквивалентное спектрометрическим инструментам. Длина волны может быть выбрана от 450 до 750 нм с точностью до 1 нм. Высокая скорость / Многослойное измерение до 9 слоев Параллельная обработка с помощью спектроскопической рефлектометрии Передовые приложения ① Несколько сотен повторяющихся пленок, таких как полосовые интерференционные фильтры, и составные многослойные пленки, такие как траншейная структура ② Оценка плотности субмикронного рисунка с помощью приближения эффективной среды (EMA) ③ Оценка кристалличности локальной области, например, лазерный отжиг Измерение распределения толщины пленки в заданной области объективного поля зрения. Измерьте область 6,6x8,8 мм□ с помощью 1x-объектива. Измерение пространственного разрешения 0,5 мкм с помощью 50-кратного объектива.