Флуоресцентный спектрофотометр FL 8500

непрерывной волныдля сельского хозяйства и пищевой промышленностифотоэлектронный умножитель

Флуоресцентный спектрофотометр FL 8500 обладает высочайшей точностью, позволяющей получать правильные результаты с первого раза даже на разбавленных или небольших объемах образцов. Быстрое сканирование увеличивает пропускную способность образца и максимизирует производительность. Типы анализа включают определение характеристик материалов, промышленное отслеживание и производственные исследования, сельскохозяйственный и экологический анализ, а также анализ светодиодов, солнечных элементов и органических электролюминесцентных материалов. Просмотрите интерактивную онлайн-брошюру, чтобы узнать, как FL 8500 может удовлетворить ваши потребности. Обзор Флуоресцентный спектрофотометр FL 8500 использует источник возбуждения непрерывной волны для высокочувствительных измерений со скоростью сканирования до 60 000 нм/мин. Особенности и преимущества включают: Высокое разрешение (1,0 нм) Высокая скорость сканирования до 60 000 нм/мин Чувствительный, высокопроизводительный ПМТ-детектор R928 в сочетании с оптикой PerkinElmer обеспечивает оптимальную производительность во всем спектре. Широкий диапазон длин волн возбуждения и эмиссии до 900 нм Превосходная точность и воспроизводимость длины волны для получения правильных результатов с первого раза 4 режима сбора данных позволяют делать больше на одном приборе: Флуоресценция, Фосфоресценция, хеми/биолюминесценция и фосфоресценция с временным разрешением Простота использования позволяет вашей лаборатории получать точные и надежные данные по флуоресценции независимо от уровня опыта оператора благодаря интуитивно понятному программному обеспечению Spectrum FL, разработанному с учетом особенностей вашего рабочего процесса. Гибкость - 26 и подключаемые автоматически распознаваемые аксессуары позволяют анализировать широкий спектр типов образцов и условий. Удобство - многочисленные предустановленные методы позволяют переходить от одного типа метода к другому. Идеально подходит для определения характеристик материалов;