Система контроля с рентгеновским излучением X39

система контроля с рентгеновским излучением
система контроля с рентгеновским излучением
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
с рентгеновским излучением

Описание

Система рентгеновского контроля X39 специально предназначена для проверки неупакованных замороженных формованных продуктов на наличие физических загрязнений и дефектов. Исключительно высокий уровень обнаружения Одновременное обнаружение и отбраковка физических загрязнителей в замороженных формованных продуктах за счет применения фирменного запатентованного программного обеспечения ContamPlusTM для рентгеновского контроля. Абсолютное соответствие санитарным требованиям Конструкция с классом защиты IP69 соответствует требованиям для работы в жестких внешних условиях. Во всех основных зонах контакта конструкции с продуктом (включая заслонку для отбраковки) используется нержавеющая сталь 316. Сокращение расхода продукции Система X39 осуществляет точный контроль на скорости до 57 метров в минуту даже при неупорядоченном расположении продуктов на конвейере, за счет чего увеличивается период бесперебойной работы и сокращается объем отходов. Сохранение качества товарной марки Система X39 осуществляет одновременный контроль массы, наличия вмятин, отверстий, краевых дефектов, расслоения, а также контроль длины, ширины и высоты продукта, что обеспечивает отбор только соответствующей продукции для перехода к следующему технологическому этапу. Уменьшение затрат Двойная система отбраковки, включающая интегрированную пневматическую систему с несколькими форсунками и механическое устройство отбраковки, сокращает потери продукции и уменьшает затраты. Сохранение продуктов при высокой скорости обработки Система X39 способна контролировать до 1800 продуктов в минуту и поддерживать постоянно высокую производительность независимо от другого оборудования,

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Mettler Toledo

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

Analytica China 2024
Analytica China 2024

18-20 нояб. 2024 Shanghai (Китай)

  • Дополнительная информация

    Другие изделия Mettler Toledo

    Product Inspection Equipment

    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.