Система контроля с рентгеновским излучением X3750
для фармацевтической промышленности

система контроля с рентгеновским излучением
система контроля с рентгеновским излучением
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
с рентгеновским излучением
Применение
для фармацевтической промышленности

Описание

Система X3750 осуществляет контроль стеклянной тары со скоростью до 800 единиц в минуту и обеспечивает непревзойденный уровень чувствительности при выявлении инородных включений в банках диаметром до 130 мм. Непревзойденные результаты проверки Система X3750 обеспечивает оптимальную геометрию пучка рентгеновских лучей, которая устраняет все скрытые участки и обеспечивает непревзойденные результаты проверки стеклянных включений в стеклянной таре. Исключительно высокий уровень обнаружения Репутация вашей торговой марки будет под надежной защитой, так как уникальные алгоритмы рентгеновского контроля ContamPlusTM оптимизируют уровни обнаружения с высокой по точности повторяемостью. Сохранение периода бесперебойной работы Регулируемые направляющие полной длины помогают быстро настроить продукт и стабильно подавать его в систему рентгеновского контроля. Защита продуктов при высокой скорости обработки Система X3750, способная проверять до 800 единиц тары в минуту, регулируется в соответствии с ритмом производства, тем самым обеспечивая максимальную производительность и снятие дефектных продуктов с производственной линии. Сохранение качества товарной марки Помимо обнаружения физических загрязнений, система X3750 способна точно контролировать уровень заполнения и одновременно проверять качество продукции с выявлением некондиционных изделий Комплексный контроль Due Diligence Смотровые окна и освещение туннеля помогают выполнять визуальный контроль системы и настройку устройства отбраковки, демонстрируя таким образом принцип комплексного контроля Due Diligence.

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Mettler Toledo

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

Analytica China 2024
Analytica China 2024

18-20 нояб. 2024 Shanghai (Китай)

  • Дополнительная информация

    Другие изделия Mettler Toledo

    Product Inspection Equipment

    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.