Программное обеспечение для анализа LAS X Steel Expert

для анализа образцоввизуализатордля приобретения

Программное обеспечение LAS X Steel Expert от Leica Microsystems поможет вам точно и быстро оценить неметаллические включения для обеспечения качества стали. Это позволяет вам соответствовать международным, региональным и организационным стандартам на сталь, независимо от того, работаете ли вы в автомобильной и транспортной, металлообрабатывающей или строительной промышленности. Получайте результаты с минимальными усилиями Оптимизируйте свой рабочий процесс с помощью интеллектуального, интуитивно понятного пользовательского интерфейса Сосредоточьтесь на деталях с помощью двойного представления; одновременное детальное представление и обзор образца и включений Создавайте определяемые пользователем стандарты оценки включений, чтобы адаптировать анализ к нормам и процессам организации, и быстро обновляйте любые официальные изменения стандартов Оптимизация рабочего процесса Обеспечьте быстрый рабочий процесс для анализа включений. Программное обеспечение LAS X Steel Expert предоставляет интеллектуальный, интуитивно понятный пользовательский интерфейс, позволяющий любому оператору легко проводить сбор и анализ данных. Вы можете выбрать рабочий процесс, который наилучшим образом соответствует вашим потребностям для анализа нескольких образцов, ручного скрининга и аккредитации. Быстрое определение нескольких областей на одном или нескольких образцах для сканирования с помощью нескольких щелчков мыши Экономьте время и не загромождайте свою лабораторию или участок множеством проанализированных образцов: Нет необходимости вести и хранить их после получения полных карт данных образцов Легко применять соответствующие международные, региональные и организационные стандарты стали во время анализа Быстрый переход от общего обзора к детальному просмотру Выполните детальное исследование множества неметаллических включений за меньшее время с помощью программы Dual Viewer в программном обеспечении LAS X Steel Expert. Dual Viewer обеспечивает обзор большей площади образца и одновременный детальный просмотр отдельных включений.