Оптический спектрометр Anasys nanoIR3-s Broadband

FT-IRдля нанотехнологиинастольный

Система Anasys nanoIR3-s компании Bruker сочетает в себе сканирующую ближнепольную оптическую микроскопию с рассеянием (s-SNOM) и наноразмерную ИК-спектроскопию (AFM-IR) со встроенным атомно-силовым микроскопом (AFM), объединенные в единую платформу. Опираясь на технологическое лидерство Anasys в области нанооптической характеризации на основе АСМ, nanoIR3-s обеспечивает наноразмерную ИК-спектроскопию, химическую визуализацию и картирование оптических свойств с 10-нанометровым пространственным разрешением на образцах двумерных материалов. Система также позволяет проводить АСМ топографическую съемку и картирование свойств материалов с нанометровым разрешением, что делает ее идеальным инструментом для корреляционных исследований в широком спектре материаловедческих задач. В модели nanoIR3-s с опцией широкополосного излучения используется новейшая технология фемтосекундного лазера OPO/DFG, обеспечивающая широчайший спектральный диапазон (от 670 до 4000 см-¹) с высоким разрешением для получения нанохимических и нанооптических изображений. Широкополосный нано-ФМР-спектроскопия Обеспечивает ранее недостижимые фемтосекундные наноразмерные инфракрасные исследования. Дополнение s-SNOM и AFM-IR методы Обеспечивает возможность наноразмерного картирования химических и оптических свойств на одной платформе. Корреляционный опции и аксессуары Расширяют возможности картирования свойств наноразмерных материалов и контроля среды образцов. Высокопроизводительная нано FTIR спектроскопия NanoIR3-s обеспечивает: Высокопроизводительную нано FTIR спектроскопию; Высокопроизводительная ИК СНОМ спектроскопия с использованием самого совершенного из существующих источников нано-ИК лазера; нано FTIR спектроскопия с интегрированным DFG, лазерным источником на основе континуума Широкополосная интеграция источника синхротронного излучения; и Многокристальный источник QCL-лазера для спектроскопии и химической визуализации.