Спектрометр AFM Dimension IconIR
инфракрасныйFT-IRдля нанотехнологии

спектрометр AFM
спектрометр AFM
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
инфракрасный, FT-IR, AFM
Применение
для исследований, для медико-биологических наук, для нанотехнологии
Длина волны

10 nm

Описание

Система Dimension IconIR компании Bruker для больших образцов объединяет наноразмерную инфракрасную (ИК) спектроскопию и сканирующую зондовую микроскопию (СЗМ) на одной платформе, обеспечивая самые передовые возможности спектроскопии, визуализации и картирования свойств, доступные для академических исследователей и промышленных пользователей. Воплощая в себе десятилетия исследований и технологических инноваций, IconIR обеспечивает непревзойденную производительность, основываясь на лучших в отрасли возможностях АСМ-измерений Dimension Icon®. Система позволяет проводить корреляционную микроскопию и химическую визуализацию с повышенным разрешением и чувствительностью монослоя, а уникальная архитектура с большим количеством образцов обеспечивает максимальную гибкость в работе с образцами для широкого спектра приложений. Например, новое решение IconIR для полимеров представляет собой универсальный пакет, включающий все необходимое для решения ключевых задач исследования полимеров. Большие образцы высокопроизводительная наноИК-спектроскопия Обеспечивает повышенную гибкость и производительность для всех типов образцов и приложений. Корреляция химическое и наноразмерное картирование свойств Обеспечивает получение количественных нанохимических, наномеханических и наноэлектрических данных. фототермическая AFM-IR визуализация Обеспечивает высочайшую разрешающую способность при чувствительности монослоя. В одной системе IconIR обеспечивается высочайшая производительность наноразмерной инфракрасной спектроскопии, разрешение химической визуализации и чувствительность монослоя. Только Dimension IconIR обеспечивает: Высокопроизводительную наноИК-спектроскопию с точной и воспроизводимой ИК-Фурье корреляцией, химическим разрешением <10 нм и чувствительностью монослоя Корреляционная химическая визуализация с помощью наномеханического и наноэлектрического режимов PeakForce Tapping®

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Bruker Nano Surfaces
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.