Спектрометр AFM IconIR

инфракрасныйFT-IRдля нанотехнологии

Система Dimension IconIR™ компании Bruker для больших образцов объединяет наноразмерную инфракрасную (ИК) спектроскопию и сканирующую зондовую микроскопию (СЗМ) на одной платформе, обеспечивая самые передовые возможности спектроскопии, визуализации и картирования свойств, доступные для академических исследователей и промышленных пользователей. Воплощая в себе десятилетия исследований и технологических инноваций, IconIR обеспечивает непревзойденную производительность, основываясь на лучших в отрасли возможностях АСМ-измерений Dimension Icon®. Система позволяет проводить корреляционную микроскопию и химическую визуализацию с повышенным разрешением и чувствительностью монослоя, а ее уникальная архитектура с большим количеством образцов обеспечивает максимальную гибкость при работе с образцами для самого широкого спектра приложений. Производительность управляемый рабочий процесс и программируемый штатив Обеспечивает высочайшую производительность измерений благодаря простоте использования АСМ-ИК. Мультимодальный картирование химических свойств Предоставляет количественные нанохимические, наномеханические и наноэлектрические данные. Суб-5 нм запатентованная фототермическая AFM-IR визуализация Обеспечивает высочайшее разрешение, наилучшее соотношение сигнал/шум и чувствительность монослоя. Первые и единственные возможности и характеристики nanoIR В одной системе IconIR обеспечивается высочайшая производительность наноразмерной инфракрасной спектроскопии, разрешение химической визуализации и чувствительность монослоя. Только Dimension IconIR обеспечивает: Высокопроизводительную нано-ИК-спектроскопию с точной и воспроизводимой FTIR-корреляцией, химическим разрешением <5 нм и чувствительностью монослоя Корреляционная химическая визуализация с помощью наномеханического и наноэлектрического режимов PeakForce Tapping® Высокопроизводительная АСМ-визуализация и непревзойденная гибкость в работе с образцами благодаря возможности размещения больших образцов*