Система Dimension IconIR компании Bruker для больших образцов объединяет наноразмерную инфракрасную (ИК) спектроскопию и сканирующую зондовую микроскопию (СЗМ) на одной платформе, обеспечивая самые передовые возможности спектроскопии, визуализации и картирования свойств, доступные для академических исследователей и промышленных пользователей. Воплощая в себе десятилетия исследований и технологических инноваций, IconIR обеспечивает непревзойденную производительность, основываясь на лучших в отрасли возможностях АСМ-измерений Dimension Icon®. Система позволяет проводить корреляционную микроскопию и химическую визуализацию с повышенным разрешением и чувствительностью монослоя, а уникальная архитектура с большим количеством образцов обеспечивает максимальную гибкость в работе с образцами для широкого спектра приложений. Например, новое решение IconIR для полимеров представляет собой универсальный пакет, включающий все необходимое для решения ключевых задач исследования полимеров.
Большие образцы
высокопроизводительная наноИК-спектроскопия
Обеспечивает повышенную гибкость и производительность для всех типов образцов и приложений.
Корреляция
химическое и наноразмерное картирование свойств
Обеспечивает получение количественных нанохимических, наномеханических и наноэлектрических данных.
фототермическая AFM-IR визуализация
Обеспечивает высочайшую разрешающую способность при чувствительности монослоя.
В одной системе IconIR обеспечивается высочайшая производительность наноразмерной инфракрасной спектроскопии, разрешение химической визуализации и чувствительность монослоя.
Только Dimension IconIR обеспечивает:
Высокопроизводительную наноИК-спектроскопию с точной и воспроизводимой ИК-Фурье корреляцией, химическим разрешением <10 нм и чувствительностью монослоя
Корреляционная химическая визуализация с помощью наномеханического и наноэлектрического режимов PeakForce Tapping®
---