Angstrom Advanced устанавливает стандарты в области эллипсометрии, предлагая лучшие технологии эллипсометрии по самым доступным ценам. Angstrom Advanced предлагает полный спектр эллипсометров для измерения толщины тонких пленок, определения оптических характеристик для анализа показателя преломления и коэффициента экстинкции (n & k). Эллипсометры Angstrom Advanced Inc могут применяться для различных целей и используются в самых престижных лабораториях, таких как MIT, NASA, UC Berkeley, Yale University, Duke University, NIST и многих других.
PHE101 - это новейший эллипсометр с дискретными длинами волн, обладающий множеством новых функций, таких как библиотека материалов, широкий переменный угол, второй лазер для юстировки и мощное программное обеспечение, благодаря чему эллипсометр PHE101 обладает высокой точностью и повторяемостью измерений.
Высокая точность и повторяемость
Быстрая работа вращающегося анализатора.
Мощное программное обеспечение с библиотекой материалов
Широчайший изменяемый угол 10-90°
Автоматическая фокусировка компенсирует топографию образца и смещение "носа" пластины
Высокая стабильность и воспроизводимость измеряемого угла лучше 0,01°
Скорость измерения менее 1 с
Эллипсометр PHE101 - идеальный эллипсометр с дискретными длинами волн, предназначенный для измерения показателя преломления, коэффициента экстинкции (n и k) и толщины однослойных и многослойных пленок.
Эллипсометр PHE101 быстро и точно снимает показания благодаря прецизионному оптическому анализатору/детектору и устойчивой механической конструкции. Эллипсометр PHE101 поставляется в комплекте с интегрированным программным пакетом для Windows, что еще больше повышает скорость и удобство работы с прибором.
---