Спектроскопический эллипсометр PHE 102

лабораторный

Angstrom Advanced устанавливает стандарты в области эллипсометрии, предлагая лучшие технологии эллипсометрии по самым доступным ценам. Angstrom Advanced предлагает полный спектр эллипсометров для измерения толщины тонких пленок, определения оптических характеристик для анализа коэффициента преломления и экстинкции (n & k). Наши эллипсометры могут применяться для различных целей и используются в самых престижных лабораториях, таких как MIT, NASA, UC Berkeley, Yale University, Duke University, NIST и многих других. Быстрое измерение в УФ/ВИС/ИК диапазоне 250 - 1100 нм с детектором на диодной матрице или моторным спектрометром (монохроматором) Опциональное расширение спектрального диапазона в БИК (700 - 1700 нм) или (700 - 2100 нм) Опциональное расширение УФ-ВИС диапазона (190 - 1100 нм) Вращающийся поляризатор обеспечивает точное измерение любого состояния поляризации Анализатор с пошаговым сканированием для высокоскоростного и малошумного сбора данных Переменный угол от 10-90° Также возможна автоматическая установка угла от 10-90° Быстрое определение толщины и показателя преломления однослойных или многослойных образцов Широкий диапазон данных Psi и Delta измеряется автоматически и подгоняется с помощью программного обеспечения PHE-102 Программное обеспечение PHE-102 - это наиболее полная программа для сбора и анализа данных. Она сочетает в себе современные математические алгоритмы подгонки с большим выбором вариантов моделирования для быстрого и точного анализа данных. Современное программное обеспечение для спектроскопической эллипсометрии Встроенная библиотека свойств материалов, включающая несколько сотен моделей материалов Подбор новых материалов с использованием известных свойств материалов