Дифрактометр с рентгеновским излучением ADX-2500

для исследований

Рентгеновский дифрактометр ADX-2500 предназначен для измерения микроструктуры, тестирования и проведения глубоких научных исследований. Благодаря наличию различных принадлежностей и соответствующего программного обеспечения для управления и расчетов ADX-2500 XRD представляет собой дифракционную систему, отвечающую практическим требованиям во многих областях. Рентгеновский дифрактометр ADX-2500 обеспечивает анализ структуры монокристаллических, поликристаллических и аморфных образцов. Дифрактометр ADX-2500 позволяет проводить качественный и количественный анализ фаз (RIR, калибровка по внутреннему стандарту, калибровка по внешнему стандарту, аддитивный критерий), индексацию образцов, определение и уточнение элементарной ячейки, определение размера кристаллитов и деформации, подгонку профиля и уточнение структуры, определение остаточного напряжения, анализ текстуры (ODF выражает трехмерную фигуру полюса), оценку кристалличности по площади пиков, анализ тонких пленок и др. Особенности Идеальное сочетание аппаратного и программного обеспечения позволяет рентгеновскому дифрактографу ADX-2500 выполнять различные виды анализа для исследователей из различных областей; Высокая точность измерения угла дифракции позволяет рентгеновскому дифрактографу ADX-2500 получать более точные данные; Высокая стабильность системы управления рентгеновским генератором обеспечивает отличную точность измерений; Простая и эффективная конструкция делает ADX-2500 XRD удобным в эксплуатации и дружелюбным к пользователю. Программное обеспечение Общая обработка дифракционных данных: автоматический поиск пиков, ручной поиск пиков, интегральная интенсивность, разделение Kα1, α2, удаление фона, сглаживание и увеличение рисунка, построение множественных графиков, трехмерных графиков и моделирование рентгенодифракционной картины (XRD).