＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Увеличение : 50 unit - 1 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0,2, 0,14 nm
Ширина: 840 mm
... Трансмиссионные электронные микроскопы (ТЭМ) с ускоряющим напряжением 120 кВ широко используются в области мягких материалов, таких как биология и полимеры. Мы недавно разработали JEM-120i с концепцией "Компактный", "Простой в использовании" ...
Jeol
... Универсальность и высокое пространственное разрешение сочетаются с автоматизацией при использовании FE-SEM серии JSM-IT810. Автоматизация получения изображений и EDS-анализа без кодирования встроена для упрощения и повышения эффективности рабочего процесса. Новые ...
Jeol
Увеличение : 150, 10 000, 100, 500, 5 000 unit
Пространственное разрешение: 3, 15 nm
... Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) являются незаменимыми инструментами не только для исследований, но и для контроля качества и производственных площадок. На этих сценах одни и те же процессы наблюдения должны выполняться неоднократно, ...
Jeol
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки