Спектрорадиометрические системы серии ZLX-ES предназначены для точного измерения мощности излучения, испускаемого источником света в зависимости от длины волны. Типичными примерами являются измерения светодиодов, вольфрамовых и люминесцентных ламп. Система является модульной и может быть сконфигурирована с использованием монохроматоров с коротким или длинным фокусным расстоянием, таких как Omni-λ300 или Omni-λ750, соответственно, в зависимости от требуемого спектрального разрешения.
В зависимости от требований к измерениям обычно используются две конфигурации системы.
Для высокоскоростной характеризации источников света в УФ- и видимом диапазоне можно использовать детектор на основе массива ПЗС, а также серию Omni-λ, работающую в режиме спектрографа. Этот режим, например, особенно полезен для определения характеристик светодиодных источников. Для источников УФ- и ВИЗ-диапазона доступна опция выносной головки сбора, которая соединяется с анализирующим монохроматором / спектрографом с помощью оптического волокна.
В спектральных диапазонах от УФ до ИК с монохроматором в режиме сканирования также можно использовать различные калиброванные детекторы.
---