Микроскоп с рентгеновским излучением Xradia Synchrotron
для медико-биологических наукдля испытания материалов3D

микроскоп с рентгеновским излучением
микроскоп с рентгеновским излучением
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
с рентгеновским излучением
Применение
для медико-биологических наук, для испытания материалов
Метод наблюдения
3D
Другие характеристики
ультравысокое разрешение

Описание

ZEISS Xradia Synchrotron обеспечивает получение наноразмерных рентгеновских изображений в синхротронной установке, позволяя отказаться от дорогостоящих и трудоемких собственных разработок. Собственная рентгеновская оптика и платформа для 3D-рентгеновской спектромикроскопии обеспечивают сверхъяркие, перестраиваемые рентгеновские пучки, доступные на установках. Быстрое неразрушающее 3D-изображение с разрешением менее 30 нм. Семейство синхротронов Xradia охватывает энергетические диапазоны от мягкого до жесткого рентгеновского излучения в различных условиях, например, крио-, in situ-нагрев, нагрузка, электрохимия. Максимизация научных результатов Лучшее 3D-разрешение и контрастность Передовая визуализация в 4D и далее Максимизация научных результатов Воспользуйтесь преимуществами этого готового рентгеновского микроскопа высокого разрешения О бесперебойной работе вашего прибора позаботится глобальная круглосуточная сеть поддержки От пробоподготовки до сбора данных и реконструкции: воспользуйтесь этим высокоэффективным решением для сквозного рабочего процесса Оптимальное использование производительности вашей платформы за счет взаимодействия с сообществом ученых-синхротронщиков Ведущее 3D-разрешение и контрастность Достижение пространственного разрешения менее 30 нм Изображение с использованием различных доступных режимов контраста, таких как флуоресценция, Zernike, XANES Расширение платформы для удовлетворения исследовательских потребностей, например, за счет модулей крио- и in situ Расширенная визуализация в 4D и далее Использование рентгеновских пучков, доступных на синхротронных установках 2-го и 3-го поколения Сочетание визуализации с XANES-спектроскопией Картирование элементного и химического состава в 3D Изучение наноструктурной эволюции in situ в реальных условиях эксплуатации, например, в аккумуляторах Мониторинг химических реакций в газовых или жидкостных реакторах

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги ZEISS Microscopy
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.