УФ-ВИД-БлИК спектрофотометры для исследования оптических материалов, полупроводников и т.д.
Спектрофотометры серии SolidSpec отличает высокая чувствительность, возможность проведения измерений в широком спектральном диапазоне (от глубокого УФ до ближнего ИК-диапазона) и большое кюветное отделение. Все это позволяет использовать приборы при оценке характеристик изделий из стекла, полупроводниковых материалов, панелей солнечных батарей и плоскопанельных мониторов. Другое распространенное использование SolidSpec-3700/3700 DUV и SolidSpec-3700i/3700i DUV — это анализ запрещенной зоны, оценка характеристик покрытия и оптических компонентов.
Управление спектрофотометрами SolidSpec-3700i/3700i DUV обеспечивает программное обеспечение LabSolutions UV-Vis.
Управление спектрофотометрами SolidSpec-3700/3700 DUV обеспечивает программное обеспечение UVProbe.
В случае ПО LabSolutions UV-Vis помимо функций измерения и анализа доступна возможность оценки результатов измерения (критерий соответствия/несоответствия). Простой экспорт данных в текстовый или табличный формат повышает эффективность работы.
Дополнительное ПО для всех спектрофотометров:
ПО для расчета фактора защиты от УФ излучения (UPF) и для измерения пропускания солнечного света
ПО для измерения цветности
ПО для измерения толщины пленок