S wide - это специализированная система, предназначенная для быстрого измерения больших площадей образцов размером до 300 x 300 мм. Она обладает всеми преимуществами цифрового микроскопа, интегрированного в измерительный прибор высокого разрешения. Исключительно простая в использовании система с одним нажатием кнопки.
РЕШЕНИЯ
Оптическая метрологическая система трехмерного измерения большой площади
Передовое производство
Археология и палеонтология
Потребительская электроника
Медицинские приборы
Формование
Оптика
Часовая промышленность
Субмикронная повторяемость высоты по всей протяженной области
Однократное измерение высоты до 40 мм без Z-сканирования
Бителецентрические линзы с очень низким уровнем искажений поля обеспечивают точную метрологию
Отклонение формы от 3D CAD-моделей
измерение геометрической разницы и допусков
Бителецентрические линзы с очень низкой полевой дисторсией обеспечивают точную метрологию
Отклонение формы от 3D CAD-моделей
обеспечение геометрической разницы и измерения допусков
---