Массовый спектрометр ZSX Primus400

рентгенофлуоресцентныйвысокое разрешение

Уникальный последовательный рентгенофлуоресцентный спектрометр Rigaku ZSX Primus 400 с дисперсией по длине волны (WD-XRF) был специально разработан для работы с очень большими и/или тяжелыми образцами. Принимая образцы диаметром до 400 мм, толщиной до 50 мм и массой до 30 кг, эта система идеально подходит для анализа напыляемых мишеней, магнитных дисков, а также для метрологии многослойных пленок или элементного анализа больших образцов. XRF с адаптированной системой адаптеров для образцов Обладая универсальностью для адаптации к конкретным типам образцов и потребностям анализа, этот спектрометр WDXRF может быть адаптирован к образцам различных размеров и форм с помощью дополнительных (изготавливаемых на заказ) адаптерных вставок. Благодаря изменяемому пятну измерения (диаметр от 30 мм до 0,5 мм, с 5-ступенчатым автоматическим выбором) и возможности картирования с многоточечными измерениями для проверки однородности образца, этот уникальный гибкий прибор может значительно упростить ваши процессы контроля качества. XRF с доступной камерой и специальным освещением Дополнительная камера, работающая в режиме реального времени, позволяет просматривать область анализа в программном обеспечении. Оператор имеет полную уверенность в том, что именно измеряется. Традиционные аналитические возможности WDXRF Все аналитические возможности традиционного прибора сохраняются в этом варианте "для больших образцов". Анализ бериллия (Be) и урана (U) с помощью высокоточной спектроскопии WDXRF с высоким разрешением, от твердых тел до жидкостей, от порошков до тонких пленок. Анализируйте широкий диапазон состава (от ppm до десятков процентов) и толщины (от суб Å до мм).