Обзор продуктаVISILAB V2 — это сертифицированная в ЕС автоматизированная система статистической метрологии для монет и заготовок. Она заменяет ручные измерения, формируя итоговый отчет, пригодный для выпуска партии в системе контроля качества. Система обрабатывает заготовки и обращающиеся в обращении монеты.
Характеристики- Модель: VISILAB V2
- Возможности инспекции: автоматическая метрология монет и заготовок
- Производительность: до 250 монет или заготовок за 30 минут
- Измеряемые параметры: внешний диаметр, овальность, высота борта, плоскостность, проводимость, толщина покрытия, вес
- Совместимость материалов: биметалл, медь, сталь, никель, алюминий
- Удобство для пользователя: самокалибрующиеся камеры, простой сенсорный интерфейс, не требуется настройка для циркулирующих монет
- Габариты: 1 860 x 650 x 1 500 мм
- Вес: прибл. 300 кг
- Опции: измерение электромагнитных свойств, анализ толщины поля
Другие решения для инспекции (обзор)- VISIA – продвинутая инспекция заготовок и монет
- Пропускная способность: до 200 000 монет или заготовок в час
- Универсальность: совместимость с различными формами (круглая, гофрированная, биметаллическая) и материалами (никель, медные сплавы, сталь, алюминий)
- Точность инспекции: 100% проверка поверхности с использованием 4-цветных матричных камер
- Эксплуатация: интуитивный сенсорный интерфейс и открытая архитектура для облегчения обслуживания
Технические характеристики- Модель: VISILAB V2
- Сертификация: инструмент автоматизированного статистического контроля измерений, сертифицированный в ЕС
- Типичный пропуск: до 250 монет или заготовок за 30 минут
- Измеряемые параметры: Внешний диаметр; Овальность; Высота борта; Плоскостность; Проводимость; Толщина покрытия; Вес
- Совместимость материалов: Биметалл, Медь, Сталь, Никель, Алюминий
- Интерфейс пользователя: Сенсорный экран
- Калибровка: самокалибрующиеся камеры
- Настройка: не требуется для циркулирующих монет
- Габариты (Ш x Г x В): 1 860 x 650 x 1 500 мм
- Вес: прибл. 300 кг
- Опциональные измерения: измерение электромагнитных свойств; анализ толщины поля