Оптический профилометр TopMap Micro.View®

многоцелевой3Dдля топографии

TopMap Micro.View - это простой в использовании и компактный оптический профилометр. Сочетайте исключительную производительность и доступную цену с этим мощным метрологическим решением. Благодаря расширенному диапазону измерений 100 мм по Z и технологии непрерывного сканирования CST Micro.View измеряет сложные рельефы с разрешением нм. Этот удобный настольный прибор оснащен встроенной электроникой, а интеллектуальный фокус-искатель упрощает и ускоряет процедуру измерения. Основные характеристики Измерение шероховатости поверхности с помощью компактной установки Бесконтактное измерение трехмерной топографии, шероховатости и текстуры диапазон измерений 100 мм по z с технологией непрерывного сканирования CST Отличное боковое разрешение Выбор целей для конкретного применения Малая площадь при расширенных возможностях Воспользуйтесь дополнительной технологией компенсации воздействия окружающей среды ECT, обеспечивающей надежные и точные результаты измерений даже в шумных и сложных производственных условиях. Micro.View - это экономически эффективный прибор для контроля качества при проверке прецизионных инженерных поверхностей как в производстве, так и в научных исследованиях. Микроскопическая система для профилирования поверхностей Белый свет позволяет выявить мельчайшие детали ваших прецизионных поверхностей. Объективы микроскопа позволяют охарактеризовать качество поверхности и определить, насколько шероховатой или гладкой является поверхность вашей заготовки. Воспользуйтесь преимуществами моторизованных измерений поверхности и автоматического позиционирования. Система поиска фокуса автоматически помогает вам, чтобы вы могли сосредоточиться на качестве поверхности. Точные измерения - это опыт, знания, эксперты и технологии, которым мы доверяем. Загляните за кулисы,