Камера для наблюдения OM-1 Mark II_IR

диагностическаядля контролядля медико-биологических наук

Обзор
Построенная на компактном и лёгком беззеркальном корпусе OM SYSTEM с сменной оптикой, OM-1 Mark II_IR — это специально разработанная инфракрасная система, обеспечивающая съёмку в ближней ИК-области для испытаний, инспекций, исследований и других специализированных задач. Система объединяет платформу камер OM SYSTEM с магнитным набором фильтров и программной поддержкой для работы как в инфракрасном, так и в видимом диапазоне.

Ключевые особенности

• Инфракрасная система на базе беззеркальной платформы OM SYSTEM для ближней ИК-имиджинга.
• Режимы съёмки высокой чёткости: Tripod High Res Shot (RAW/JPEG до 80 мегапикселей) и Handheld High Res Shot (RAW/JPEG до 50 мегапикселей).
• Обработка изображений в камере и настраиваемые пользовательские режимы для быстрого выбора часто используемых настроек.
• Магнитное крепление фильтров для быстрой смены между инфракрасной и видимой съёмкой: в комплекте MRC IR-фильтр (пропускает инфракрасное, блокирует видимый) и MRC UV/IR cut-фильтр (для видимого света).
• Разработана для работы со штатива и с рук; поддерживается постоянное питание через устройства, совместимые с USB/PD.
• Совместимость с веб-камерами (USB аудио/видео класс) для потоковой передачи или съёмки.

Включённый / настраиваемый магнитный набор фильтров

• Магнитный MRC IR-фильтр (блокирует видимые длины волн; пропускает ближний инфракрасный).
• Магнитный MRC UV/IR Cut-фильтр (блокирует UV и IR; пропускает видимый спектр для стандартной съёмки).
• Магнитная крышка объектива (в примере набора 67 мм) и магнитное адаптерное кольцо для быстрой установки.

Программное обеспечение
OM Capture для дистанционного управления камерой и моментальной съёмки по проводному соединению. OM Workspace для просмотра изображений, обработки RAW и сравнения видимых и инфракрасных изображений. Оба приложения поддерживают инфракрасные рабочие процессы и доступны бесплатно для проверки и обработки изображений.

Применения

• Промышленная и производственная инспекция: пластины (wafers), акрил, стекло, зеркальные компоненты — выявление деталей, невидимых при стандартном освещении.
• Пищевая промышленность: обнаружение посторонних включений, оценка распределения ингредиентов, классификация продуктов и контроль качества.
• Криминалистика и расследования: проверка подлинности и расширенный анализ улик с помощью ближней инфракрасной съёмки.
• Исследования и культурное наследие: наблюдение в ближнем ИК для выявления надписей, подготовительных рисунков, поверхностей, покрытых сажей, фресок и анализа мазков кисти.

Загрузки и документация
Доступны подробные руководства пользователя и документация (несколько языков); предоставляются прошивки, LUT и программные ресурсы (OM Capture, OM Workspace) для поддержки съёмки, обработки и управления цветом/рабочими процессами для инфракрасной съёмки. Руководства и технические документы публикуются для семейства OM-1 Mark II и соответствующих компонентов набора.

Технические характеристики

• Коммерческое название: OM-1 Mark II_IR
• Тип системы: Инфракрасная система на базе беззеркальной платформы OM SYSTEM
• High Res Shot (штатив): RAW до 80 MP, JPEG до 80 MP
• High Res Shot (с рук): RAW до 50 MP, JPEG до 50 MP
• Примерные размеры/вес корпуса: 134,8 x 91,6 x 72,7 мм; ~599 г (включая одну аккумуляторную батарею)
• Пример объектива (комплект): Ø63,4 x длина 70 мм; вес ~254 г (пример 12-45mm F4 PRO комплектный объектив)
• Аккумулятор: BLX-1 (1 шт.), типично ~500 снимков
• Питание: постоянное питание возможно через устройства, совместимые с USB Power Delivery
• Tripod High Res Shot: поддерживается (см. режимы съёмки выше)
• Глубинная композиция: поддерживается
• Класс защиты от погодных условий: Класс защиты 1 (IPX1)
• Прочее: Совместимость с веб-камерами (USB audio class / video class)
• Магнитный набор фильтров (включён/доступен): MRC IR-фильтр, MRC UV/IR cut-фильтр, магнитная крышка объектива, магнитное адаптерное кольцо
• Поддержка ПО: OM Capture (tether/управление), OM Workspace (RAW-обработка, просмотр изображений, сравнение видимого и инфракрасного)