Оптический микроскоп AX
для лабораторийпрямойинвертированный

Оптический микроскоп - AX - Nikon Instruments - для лабораторий / прямой / инвертированный
Оптический микроскоп - AX - Nikon Instruments - для лабораторий / прямой / инвертированный
Оптический микроскоп - AX - Nikon Instruments - для лабораторий / прямой / инвертированный - изображение - 2
Оптический микроскоп - AX - Nikon Instruments - для лабораторий / прямой / инвертированный - изображение - 3
Оптический микроскоп - AX - Nikon Instruments - для лабораторий / прямой / инвертированный - изображение - 4
Оптический микроскоп - AX - Nikon Instruments - для лабораторий / прямой / инвертированный - изображение - 5
Оптический микроскоп - AX - Nikon Instruments - для лабораторий / прямой / инвертированный - изображение - 6
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
оптический
Применение
для лабораторий
Эргономика
прямой, инвертированный
Головка микроскопа
бинокулярный
Метод наблюдения
конфокальный
Конфигурация
настольный
Источник света
лазер
Пространственное разрешение

МИН.: 405 nm

МАКС.: 785 nm

Описание

Конфокальные микроскопы коммерчески доступны уже более 25 лет. Как новые итерации принципиально простого прибора могут продолжить инновации? Какие изменения могут перевернуть представление об использовании конфокального микроскопа и о том, какие данные можно собирать? Представляем конфокальную микроскопическую систему Nikon AX/AX R - конфокальный прибор 10-го поколения с точечным сканированием, который дает вам больше всего: использование искусственного интеллекта (AI), увеличение количества цветов, повышение плотности пикселей, чувствительности и скорости. Это значительные дополнения с точки зрения расширения спектра экспериментов, возможных с помощью точечного сканирующего конфокального микроскопа, а также повышения удобства использования и функциональности прибора, и все это в рамках модульной и обновляемой платформы. Ключевые характеристики Благодаря самому большому полю зрения на инвертированных и вертикальных стойках микроскопа (диагональ 25 мм), больше образцов помещается в один FOV с большим выбором объективов, чем когда-либо прежде. В сочетании с размерами развертки до 8192 x 8192 пикселей сэмплирование за оптическим дифракционным пределом возможно даже при малом увеличении с помощью AX/AX R. Использование меньших увеличений с большим рабочим расстоянием и высокими числовыми апертурами позволяет использовать более гибкие методы подготовки образцов, а большой FOV обеспечивает одновременное высокое разрешение на одном изображении. Собирайте больше данных на каждом изображении и с большей скоростью. Наблюдение с минимальными помехами При лазерной сканирующей конфокальной визуализации основное внимание уделяется жизнеспособности образцов, так как при этом точечно применяется сфокусированное лазерное освещение образца.

---

Каталоги

MiBrochure
MiBrochure
2 Страницы
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.