Спектрометр XRF 2830 ZT
для анализа воды

спектрометр XRF
спектрометр XRF
спектрометр XRF
спектрометр XRF
спектрометр XRF
спектрометр XRF
спектрометр XRF
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
XRF
Применение
для анализа воды

Описание

2830 ZT Передовое решение для анализа тонких пленок полупроводников Рентгенофлуоресцентный анализатор пластин 2830 ZT с дисперсией по длинам волн (WDXRF) предлагает широкие возможности для измерения толщины и состава пленок. Анализатор пластин 2830 ZT был разработан специально для отрасли производства полупроводниковых устройств и хранения данных. Этот анализатор обеспечивает определение состава слоев, толщины, содержания присадок и однородности поверхности для различных типов пластин с размерами до 300 мм.

Каталоги

2830 ZT
2830 ZT
12 Страницы

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

ANALYTICA 2024
ANALYTICA 2024

9-12 апр. 2024 München (Германия) Зал A1.314 - Стенд Vide

  • Дополнительная информация
    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.