Спектрометр видимого диапазона JPS-9030
с рентгеновским излучениемдля трансфера пациента

спектрометр видимого диапазона
спектрометр видимого диапазона
спектрометр видимого диапазона
спектрометр видимого диапазона
спектрометр видимого диапазона
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
видимого диапазона, с рентгеновским излучением
Применение
для трансфера пациента

Описание

JPS-9030 оснащен недавно разработанным пользовательским интерфейсом, который еще больше повышает удобство использования, а также дебютирует в сложном, новом современном и элегантном внешнем дизайне. Особенности Профилирование глубины оптимизировано для приложения Недавно разработанный травильный ионный источник типа Кауфмана обеспечивает скорость травления от 1 нм/мин до 100 нм/мин (SiO2 эквивалент) и допускает широкий диапазон настроек. Он способен формировать профили глубины, подходящие для любого применения, от измерений, требующих точности, до процессов, требующих скорости. Крепление травильного ионного источника типа Кауфмана к камере обмена образцами облегчает предотвращение загрязнения измерительной камеры. Недавно разработанное программное обеспечение обеспечивает еще большую простоту использования Спецсерфинг Вер. 2.0 теперь включает графический интерфейс в виде ленты, предлагая удобную для пользователя среду, в которой все операции можно выполнять с помощью мыши. С собственной функцией автоматического качественного анализа JEOL можно последовательно выполнять качественный, количественный анализ и анализ химического состояния для нескольких точек сбора данных. Сверхвысокая поверхностная чувствительность JPS-9030 поддерживает такие методы, как XPS с угловым разрешением (ARXPS) и XPS с полным отражением (TRXPS), и способен проводить сверхвысокочувствительный анализ верхних поверхностей размером 1 нм (стандартный метод измерения 6 нм и более). Множество вариантов Источники монохроматического рентгеновского излучения Кластерный ионный источник аргона, подходящий для органических проб

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Jeol

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

Analytica China 2024
Analytica China 2024

18-20 нояб. 2024 Shanghai (Китай)

  • Дополнительная информация
    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.