Микроскоп ФИП/FIB JIB-PS500i

SEMTEMэлектронный с разверткой в проходящем свете

JIB-PS500i предлагает три решения для подготовки образцов для ПЭМ. Обеспечивается высокая производительность рабочего процесса от пробоподготовки до наблюдения с помощью ПЭМ. Использование картриджа JEOL с двойным наклоном и держателя ТЕМ* облегчает связь между ТЕМ и FIB. Картридж можно прикрепить к специальному держателю образца для ТЕМ одним касанием. Принятый OmniProbe 400* (Oxford Instruments) обеспечивает точные и плавные операции захвата и манипуляции. Операции OmniProbe 400* интегрированы в программное обеспечение для JIB-PS500i. Чтобы точно и эффективно подготовить образец для ПЭМ, важно быстро проверить ход подготовки. Благодаря высокому наклону предметного столика и схеме детектора JIB-PS500i обеспечивает плавный переход от фрезерования FIB к визуализации с помощью сканирующего просвечивающего электронного микроскопа (STEM). Быстрые переходы между обработкой ламелей и визуализацией с помощью STEM обеспечивают эффективную подготовку образцов. АВТОМАТИЧЕСКАЯ ПОДГОТОВКА JIB-PS500i автоматизирует подготовку образцов с помощью автоматической системы подготовки образцов STEMPLING2* для ПЭМ. Эта автоматическая система позволяет любому оператору беспрепятственно подготовить образцы для ПЭМ. Система обнаружения сигналов Доступны несколько детекторов, включая стандартные SED, UED и iBED. Выбор оптимального детектора позволяет наблюдать четкие изображения различных образцов в различных условиях эксперимента. СЭМ изображения высокого разрешения Недавно разработанная система суперконических линз встроена в колонку РЭМ, что значительно улучшает качество изображения при низком ускоряющем напряжении.