Полностью интегрированная система на базе современного сканирующего зондового микроскопа SmartSPM и рамановского микроспектрометра XploRA.
Компактная, полностью автоматизированная и простая в использовании система XploRA Nano концентрирует мощь АСМ-рамана в доступном, но полнофункциональном пакете, делая получение изображений TERS реальностью для всех. Проверенная система TERS.
Платформа для анализа нескольких образцов
На одной платформе можно проводить измерения в макро-, микро- и наномасштабах.
Простота использования
Полностью автоматизированная работа, начало измерений в течение нескольких минут, а не часов!
Истинная конфокальность
Высокое пространственное разрешение, автоматизированные этапы картирования, полные возможности визуализации под микроскопом.
Высокая эффективность сбора
Рамановское детектирование сверху вниз и под углом для оптимального разрешения и пропускной способности как в
ко-локализованных и усиленных наконечником измерений (комбинационного рассеяния и фотолюминесценции).
Высокое спектральное разрешение
Высочайшее спектральное разрешение, несколько решеток с автоматическим переключением, анализ в широком спектральном диапазоне для комбинационного рассеяния и ФЛ.
Высокое пространственное разрешение
Наноразмерное спектроскопическое разрешение (до 10 нм) благодаря технологии Tip Enhanced
Оптическая спектроскопия (комбинационное рассеяние и фотолюминесценция).
Мультитехника / мультисреда
Многочисленные режимы СЗМ, включая АСМ, кондуктивный и электрический режимы (cAFM,
KPFM), STM, жидкая ячейка и электрохимическая среда, а также химическое картирование
с помощью TERS/TEPL. Полный контроль над двумя приборами с помощью одной рабочей станции и мощного программного обеспечения, СЗМ и спектрометр могут работать одновременно или независимо друг от друга
Надежность/стабильность
Сканеры АСМ с высокой резонансной частотой, работа вдали от шумов! Высокая
производительность достигается без активной виброизоляции.
---