Спектрофотометр ближний ИК-спектр UH4150
в УФ-видимом диапазоненастольный

спектрофотометр ближний ИК-спектр
спектрофотометр ближний ИК-спектр
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
в УФ-видимом диапазоне, ближний ИК-спектр
Конфигурация
настольный
Длина волны

МАКС.: 3 300 nm

МИН.: 175 nm

Ширина

900 mm
(35,4 in)

Высота

1 180 mm
(46,5 in)

Вес

160 kg
(352,7 lb)

Описание

В настоящее время появилась модель UH4150, унаследовавшая надежность спектрофотометра U-4100, общее количество поставок которого превышает 1500*1 единиц. Характеристики Малая разность уровней сигнала при переключении детектора обеспечивает высокую точность измерений даже при переключении длины волны детектора. В интегрирующей сфере установлено несколько детекторов, что позволяет проводить измерения в широком диапазоне длин волн - от ультрафиолетовой до видимой и ближней инфракрасной областей. Изменения фотометрических значений при переключении детекторов (из-за разности уровней сигналов) сведены к минимуму благодаря конструкции, в которой использован опыт Hitachi в области создания интегрирующих сфер, технологий обработки сигналов и т.д. Низкий уровень рассеянного света и низкие поляризационные характеристики достигаются благодаря высокоэффективной системе двойного монохроматора Hitachi с призматической решеткой. В UH4150 используется оптическая система двойного монохроматора с призматической решеткой (P-G), продолжающая зарекомендовавшую себя оптическую систему U-4100. Для призменно-решетчатой (P-G) системы менее вероятны большие изменения интенсивности света S- и P-поляризации, чем для обычно используемой решетчато-решетчатой (G-G) системы. UH4150 обеспечивает малошумные измерения даже для образцов с низким коэффициентом пропускания и отражения. Коллимированный пучок света позволяет точно измерять отраженный и рассеянный свет. Угол падения имеет большое значение для измерения спекулярного отражения твердых образцов. Для сфокусированного светового пучка угол падения зависит от фокусного расстояния объектива и т.д. Следовательно, значения при моделировании конструкции оптических тонких пленок, таких как диэлектрическая многослойная пленка и призма, будут отличаться от реальных измеренных значений.

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Hitachi High-Technologies
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.