Hitachi предлагает высокоточную коррекцию фона и высокочувствительные измерения, используя метод поляризованной зеемановской коррекции наряду с методом двойного детектора.
Добавление нового быстрого последовательного режима* (поддерживает метод пламени) позволяет проводить анализ с еще большей пропускной способностью, обеспечивая быстрые, точные и высоковоспроизводимые измерения в различных областях, включая исследования и управление качеством.
Особенности
Метод поляризованной зеемановской коррекции
Коррекция фона с использованием только лампы с полым катодом
Метод поляризованной зеемановской коррекции, в котором используется постоянный магнит, обеспечивает стабилизированную базовую линию, подавляет влияние сосуществующих материалов, обладающих поглощением соседних длин волн, и способствует проведению высоконадежного анализа.
Метод двойного детектора
Увеличивает количество отобранного света и уменьшает шумы
Метод двойного детектора, при котором образцовый и контрольный свет дискретизируются независимыми детекторами, уменьшает шум базовой линии. Кроме того, оба света обнаруживаются одновременно, что повышает точность коррекции.
Широкий диапазон обнаружения фона
Метод поляризованной зеемановской коррекции охватывает все элементы
Коррекция фона может быть выполнена для элементов, имеющих поглощение в ультрафиолетовом или видимом диапазоне. Метод поляризованной зеемановской коррекции является одним из вариантов коррекции и имеет то преимущество, что его не нужно выбирать для каждого элемента. Он также может корректировать элементы, которые не могут быть скорректированы методом коррекции лампой D2, такие как натрий и калий.
---