Оптический профилометр ContourX-200
цифровоймедицинский3D

Оптический профилометр - ContourX-200 - Bruker Nano Surfaces - цифровой / медицинский / 3D
Оптический профилометр - ContourX-200 - Bruker Nano Surfaces - цифровой / медицинский / 3D
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

fo_shop_gate_exact_title

Характеристики

Тип
оптический, цифровой
Применение
медицинский
Метод наблюдения
3D, конфокальный
Конфигурация
настольный, компактный
Источник света
с белым светом
Опции и аксессуары
моторизованный
Другие характеристики
высокое разрешение

Описание

Оптический профилометр ContourX-200 представляет собой идеальное сочетание расширенных характеристик, настраиваемых опций и простоты использования для лучшей в своем классе быстрой, точной и повторяемой бесконтактной трехмерной метрологии поверхностей. Система с возможностью установки датчиков и малой площадью основания обеспечивает бескомпромиссные возможности 2D/3D измерений с высоким разрешением, используя цифровую камеру 5 МП с увеличенным углом обзора и новый моторизованный XY-штатив. Обладая непревзойденным разрешением и точностью по оси Z, ContourX-200 обеспечивает все признанные в отрасли преимущества запатентованной технологии интерферометрии белого света (WLI) компании Bruker без ограничений, присущих обычным конфокальным микроскопам и конкурирующим стандартным оптическим профилометрам. Автоматизация возможности Обеспечивают выполнение рутинных операций для ускорения измерений и анализа. Моторизованный XY-стадия Обеспечивает малошумную и высокоскоростную работу для количественной метрологии. Виброустойчивый компактная конструкция Обеспечивает стабильность измерений и воспроизводимость с помощью датчиков. ОСОБЕННОСТИ Бескомпромиссная, лучшая в своем классе метрология Оптический профилометр ContourX-200, созданный на основе более чем четырех десятилетий собственных инноваций компании WLI, отличается низким уровнем шума, высокой скоростью, точностью и прецизионностью результатов, необходимых для количественной метрологии. Использование нескольких объективов и встроенной системы распознавания признаков позволяет отслеживать признаки в различных полях зрения и с субнанометровым вертикальным разрешением, обеспечивая независимые от масштаба результаты для контроля качества и мониторинга технологических процессов в самых разных отраслях промышленности. ContourX-200 устойчив к любым поверхностям с отражательной способностью от 0,05% до 100%. Новые аппаратные возможности включают в себя инновационную конструкцию ступени для расширения возможностей сшивки

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Bruker Nano Surfaces
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.