Атомно-силовая микроскоп attoAFM I

для лабораторийкомпактный

консольный держатель без выравнивания → замена наконечника менее чем за 2 минуты интерферометрическое определение отклонения кантилевера → встроенный амплитудный манометр сканирование по замкнутому контуру (опция) → простое извлечение интересующих областей AttoAFM I - это компактный атомно-силовой микроскоп, разработанный специально для применения при низких и сверхнизких температурах, а также в высоких магнитных полях. Прибор работает путем сканирования образца под неподвижным кантилевером и измерения его отклонения с высочайшей точностью с помощью оптического интерферометра на основе оптоволокна. Преимущество этого метода определения отклонения заключается в том, что он имеет встроенный измеритель длины амплитуды колебаний кантилевера, поскольку контраст интерферометра прямо пропорционален длине волны лазера. Применяется как контактный, так и бесконтактный режим. В основном он используется для магнитно-силовой микроскопии (MFM), например, для визуализации вихрей в сверхпроводниках или магнитных доменов при переменной температуре, а также для силовой микроскопии с пьезооткликом (PFM) в ферроэлектриках и мультиферроиках. Другие поддерживаемые режимы измерений АСМ включают силовую микроскопию с зондом Кельвина (KPFM), проводящую АСМ (c-AFM), электросиловую микроскопию (EFM) и другие режимы визуализации. Для получения дополнительной информации ознакомьтесь с нашими основами микроскопии. Жесткая конструкция модуля микроскопа позволяет использовать его в комбинации с системами охлаждения на основе импульсных трубок без криогена для тех случаев, когда жидкий гелий недоступен или нежелателен.