Твердомер MHT³

твердомер
твердомер
твердомер
твердомер
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Описание

Микроиндентификационный тестер (MHT³) Диапазон больших усилий инструментальных испытаний на вдавливание (IIT) Микроиндентификационный стенд идеально подходит для измерения механических свойств, таких как твердость и модуль упругости на основе инструментальных испытаний на вдавливание (IIT). Применяется для насыпных образцов и тонких пленок, от мягких до твердых материалов (металлы, керамика, полимеры) с большой глубиной измерения (до 1 мм). Дополнительно может быть добавлен модуль проверки на царапины. Инструментированные испытания на вдавливание (IIT) для определения твердости и модуля упругости Глубина вдавливания: глубина проникновения непрерывно контролируется в зависимости от прилагаемой силы для измерения не только твердости материалов, но и модуля упругости От нано- до макроотступов в одном приборе Микроиндикаторы от небольших глубин (несколько нм для обнаружения на поверхности) до больших глубин (максимум 1 мм) Большой диапазон прилагаемых усилий (от 10 мН до 30 Н) для соответствия характеристикам образца Диапазон высоких усилий особенно полезен для шероховатых поверхностей Высокая точность по глубине и усилию для точных измерений микровдавливания Два независимых датчика: силовой и глубинный для точных метрологических измерений Высокая жесткость рамы: 2 x 108 Н/м для большей точности измерения глубины Профилирование свойств материала по глубине Профилирование глубины с непрерывным многоцикловым циклом (CMC): твердость и модуль упругости в зависимости от глубины проникновения Режимы регулирования силы и глубины Визуальная матрица с множественным выбором положений отступов на определенной площади поверхности Несколько режимов тестирования: задаваемые пользователем последовательности, позволяющие задавать желаемые параметры для условий тестирования

---

Каталоги

Product Catalog
Product Catalog
12 Страницы

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

Analytica China 2024
Analytica China 2024

18-20 нояб. 2024 Shanghai (Китай)

  • Дополнительная информация

    Другие изделия Anton Paar

    Instrumented Indentation Tester

    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.