Атомный масштаб разрешения
Большой размер образца
Цифровая обработка сигналов (DSP) обеспечивает высокую производительность
Встроенная операционная система реального времени
Быстрое Ethernet-соединение с компьютером
Многофункциональный
Атомно-силовой микроскоп (АСМ)
Латеральный силовой микроскоп (LFM)
Силовой анализ: I-V кривая, I-Z кривая, кривая силы
3D-изображение в режиме реального времени для лучшего наблюдения
Многоканальные сигналы для более детального изучения образца
Сканирование с трассировкой, сканирование назад-вперед
Мультианализ: Зернистость и шероховатость
Выгрузка данных для дальнейшего анализа
Простое управление
Быстрое автоматическое включение наконечника
Легкая смена держателя наконечника для простого переключения между СТМ и АСМ
Полностью цифровое управление, автоматическое распознавание состояния системы
Программное перемещение образца
Функция Nano-Movie: Непрерывный сбор, хранение и воспроизведение данных
Технические характеристики
Технические параметры
Размах сканирования по оси X-Y: ~ 10 микрометров
Расстояние по Z: ~ 2 микрометра
Пиксели изображения: 128 × 128, 256 × 256, 512 × 512, 1024 × 1024
Угол сканирования: 0 ~ 360°
Скорость сканирования: 0.1 ~ 100 Гц
Электроника
ЦЕНТРАЛЬНЫЙ ПРОЦЕССОР: 32-разрядный цифровой сигнальный процессор (DSP) с частотой 600 МГц от Texas Instruments
Быстрый16-битный ЦАП
Быстрый16-битный АЦП
Высокое напряжение: 5-канальный
Коммуникационный интерфейс: 10M/100M Fast Ethernet
Механика
Размер образца: До 45 мм в диаметре, до 15 мм при использовании AA2000/AA3000 и до 30 мм при использовании AA5000;
Захват: Автоматическое срабатывание с расстоянием перемещения 30 мм и точностью 50 нм
Модульная конструкция для удобства обслуживания и последующей модернизации
Программное обеспечение
Программное обеспечение для управления в режиме онлайн и программное обеспечение для обработки изображений в режиме офлайн
---