Микроскоп с рентгеновским излучением Xradia Ultra

для испытания материаловдля медико-биологических наукфазоконтрастный

Синхротронная рентгеновская нанотомография позволяет получать неразрушающие трехмерные изображения в наномасштабе, но для этого необходимо подавать заявки на очень ограниченное время работы пучка. Что если бы вам больше не нужно было ждать синхротронного времени? Представьте себе, что у вас есть возможности синхротрона в вашей собственной лаборатории. С семейством ZEISS Xradia Ultra у вас под рукой 3D неразрушающие рентгеновские микроскопы (XRM), обеспечивающие разрешение наномасштаба с качеством, подобным синхротронному. На выбор предлагаются две модели: ZEISS Xradia 810 Ultra и ZEISS Xradia 800 Ultra, которые позволяют получить оптимальное качество изображения для наиболее часто используемых задач. Неразрушающая визуализация в естественных условиях Наноразмерная трехмерная рентгеновская визуализация с пространственным разрешением до 50 нм и размером вокселей 16 нм 3D и 4D эксперименты in situ Количественная оценка наноструктур и использование полученных данных для моделирования Исследование твердых и мягких материалов Повышение эффективности исследований с помощью неразрушающей наноразмерной визуализации Используйте уникальные возможности неразрушающей визуализации для трехмерного наблюдения наноразмерных явлений в их естественных средах. Единственный прибор, заполняющий пробел между рентгеновскими микроскопами с субмикронным разрешением (например, ZEISS Xradia Versa) и более высокоразрешающими, но разрушающими 3D-изображениями, например, FIB-SEM Используйте интегрированные решения in situ для выполнения ведущей неразрушающей 3D/4D рентгеновской визуализации в вашей лаборатории с разрешением до 50 нм и размером вокселя 16 нм. Ускорьте свои исследования, добавив эти уникальные возможности в свой аналитический портфель. Достижение превосходного контраста и качества изображения Наблюдайте дефекты в трехмерном изображении, не разрушая образец и не изменяя данные артефактами при нарезке.