Оптический микроскоп LSM 900
для испытания материаловинвертированныйфлуоресцентный

оптический микроскоп
оптический микроскоп
оптический микроскоп
оптический микроскоп
оптический микроскоп
оптический микроскоп
оптический микроскоп
оптический микроскоп
оптический микроскоп
оптический микроскоп
оптический микроскоп
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
оптический
Применение
для испытания материалов
Эргономика
инвертированный
Метод наблюдения
флуоресцентный, 3D, конфокальный с лазерным сканером, поляризационный, для топографии
Конфигурация
настольный
Пространственное разрешение

120 nm, 405 nm, 488 nm, 561 nm, 640 nm

Описание

ZEISS LSM 900, конфокальный лазерный сканирующий микроскоп (CLSM) от компании ZEISS, - это единственный прибор, который вам понадобится для анализа материалов. Охарактеризуйте трехмерную топографию поверхностей микроструктур в своей лаборатории или многопользовательском центре. Объедините все основные методы контрастной световой микроскопии материалов с высокоточной топографией. Экономия времени на настройку, поскольку нет необходимости менять микроскопы. Выполнение бесконтактной конфокальной визуализации при оценке шероховатости поверхности. LSM 900 - идеальный инструмент для многопользовательского комплекса. Дополните свой вертикальный световой микроскоп ZEISS Axio Imager.Z2m или инвертированный световой микроскоп ZEISS Axio Observer 7 модулем конфокального сканирования. Комбинируйте световую микроскопию и конфокальную визуализацию Эффективное исследование образца Расширьте диапазон визуализации Комбинируйте световую микроскопию и конфокальную визуализацию LSM 900, ваша высококлассная конфокальная платформа, создана для сложных задач исследования материалов как в 2D, так и в 3D. Характеризуйте топографические структуры и оценивайте шероховатость поверхности с помощью бесконтактной конфокальной визуализации Неразрушающее определение толщины покрытий и тонких пленок Использование различных методов визуализации, включая поляризацию и флуоресценцию в режиме оптического контраста или в конфокальном режиме Определение характеристик металлографических образцов в отраженном свете или тонких срезов горных пород или полимеров в проходящем свете Эффективное исследование образца Сократите время настройки и ускорьте получение результатов, выполняя анализ и визуализацию без смены микроскопов. Оптимизация процессов благодаря автоматизированному сбору данных в различных точках образца Просто определите область интереса на обзорном изображении и получайте данные только в нужной области

---

ВИДЕО

Каталоги

ZEN Microscopy Software
ZEN Microscopy Software
32 Страницы
Axio Observer
Axio Observer
24 Страницы

Другие изделия ZEISS Microscopy

Light Microscopes

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.