Цифровой рефрактометр J157 series
лабораторныйнастольныйс сенсорным экраном

цифровой рефрактометр
цифровой рефрактометр
цифровой рефрактометр
цифровой рефрактометр
цифровой рефрактометр
цифровой рефрактометр
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
цифровой
Применение
лабораторный
Конфигурация
настольный
Другие характеристики
с сенсорным экраном

Описание

Цифровой рефрактометр Rudolph J157 обладает высокой производительностью и набором функций для решения многих сложных задач в лабораториях и жестких промышленных условиях. Компания Rudolph Research Analytical, работая совместно с пользователями рефрактометров (рефрактометров) из разных стран и дисциплин, разработала серию цифровых рефрактометров J157. Линейка настольных рефрактометров Rudolph J157 сочетает в себе характеристики, диапазон измерений и точность, которые отвечают самым требовательным приложениям как в лаборатории, так и вне ее, и имеет много общих характеристик с линейкой рефрактометров Rudolph Research. Цифровой рефрактометр J157 PLUS HA идеально подходит для высокоточных измерений в сахарной, пищевой промышленности и производстве напитков Цифровой рефрактометр Rudolph J157HA обеспечивает высокую точность измерения RI ±0,00002, BRIX ±0,01 с диапазоном измерения RI 1,32 - 1,53, BRIX 0 - 100. Самое главное, что это делает J157HA отличным выбором для контроля качества продуктов питания и напитков. Цифровой рефрактометр - J157 PLUS WR идеально подходит для химической промышленности. С диапазоном измерений RI 1,29 - 1,66 и BRIX 0 - 100 Rudolph J157WR предлагает универсальность, необходимую для химических предприятий, где химикаты в основном не на водной основе. Кроме того, J157WR обеспечивает точность ±0,0001 RI и ±0,1 BRIX, что превышает точность, требуемую на большинстве химических заводов. J157-633 для биотехнологических и биоинженерных исследований Рефрактометр для биотехнологий и биоинженерии, разработанный специально для измерения материалов в системе оптической волноводно-светомодовой спектроскопии (OWLS), способен измерять эффективный показатель преломления тонкого слоя над поверхностью волновода Si(Ti)O2.

---

ВИДЕО

Каталоги

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

ANALYTICA 2024
ANALYTICA 2024

9-12 апр. 2024 München (Германия) Зал A2.102 - Стенд Vide

  • Дополнительная информация
    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.