Элементное превосходство
Рентгеновская флуоресцентная спектроскопия (XRF) позволяет выполнять элементный анализ разнообразных материалов, включая твердые, жидкие и порошкообразные. Спектрометр Zetium, разработанный для непростой области управления технологическими процессами, а также исследований и разработок, стал лидером рынка благодаря высококачественной конструкции и инновационным функциям анализа, от Be до Am, в широком диапазоне концентраций.
Платформа Zetium, созданная на основе многолетнего опыта работы и продолжающая успех нашего обширного ассортимента аналитических рентгеновских решений, представляет собой революционный шаг в анализе материалов. Платформа воплощает в себе технологию SumXcore, объединяющую WDXRF и EDXRF. Эта уникальная комбинация возможностей отличает Zetium от других решений по показателям мощности, скорости и универсальности решения задач в различных средах.
Спектрометр Zetium оснащен последней версией нашего программного обеспечения SuperQ, включая функцию Virtual Analyst, которая помогает настроить приборы даже неопытным пользователям. Доступен широкий спектр дополнительных программных модулей для таких специальных видов анализа, как безэталонный анализ, анализ следовых элементов в геологии, коррекция матрицы в маслах и анализ тонких пленок.