Автоматическое устройство подготовки проб POLISHER™
для электронной микроскопиидля охлаждениядля поверхности

автоматическое устройство подготовки проб
автоматическое устройство подготовки проб
автоматическое устройство подготовки проб
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Режим использования
автоматическое
Применение
для электронной микроскопии
Тип подготовки
для охлаждения
Тип образцов
для поверхности
Конфигурация
настольное

Описание

Термическое повреждение можно уменьшить, охлаждая образец жидким азотом во время обработки. Разработан для снижения расхода жидкого азота, обеспечивая длительные периоды охлаждения. Быстрое охлаждение образца при погружении в жидкий азот. Вернуться к комнатной температуре. Предназначен для отсоединения деталей. Включает в себя механизм, позволяющий выполнять процесс от полировки до наблюдения, не подвергая образец воздействию воздуха. Охлаждающий эффект Образец: оцинкованная сталь Использование механизма контроля температуры (опция) для охлаждения Образец: Поверхность склеивания кремниевой пластины Прерывистый процесс, охлаждение и охлаждение с функциями контроля температуры позволяют работать с различными заготовками. Функция контроля процесса Статус фрезерования поперечного сечения можно контролировать в режиме реального времени с помощью ПЗС-камеры. И увеличение может быть различным. Функция антистатического покрытия Доступна дополнительная функция ионно-лучевого распыления. Создавайте тонкие покрытия с хорошей зернистостью. Идеально подходит для случаев, требующих распознавания образов, таких как EBSD. Держатель планарного ионного фрезера Ионный пучок облучается под малым углом относительно образца, что позволяет удалить загрязнения на поверхностном слое, а также сгладить поверхность. Он также идеально подходит для селективного травления. Комплект для подготовки поперечного сечения Это комплект для выполнения измельчения ионным пучком при вращении образца. Этот комплект используется с держателем ионного фрезера Planar.  Позволяет создавать поперечные сечения образцов,

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Jeol

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

ANALYTICA 2024
ANALYTICA 2024

9-12 апр. 2024 München (Германия) Зал A2.212 - Стенд Vide

  • Дополнительная информация
    Analytica China 2024
    Analytica China 2024

    18-20 нояб. 2024 Shanghai (Китай)

  • Дополнительная информация
    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.