Рамановский микроскоп Dimension Icon-Raman

AFMдля испытания материаловнастольный

Система Icon AFM-Raman объединяет взаимодополняющие методы атомно-силовой микроскопии и микроскопии комбинационного рассеяния света для получения критически важной информации как о топографии, так и о химическом составе образца. Если эти методы дополнить такими передовыми режимами АСМ, как эксклюзивные для Bruker электрические характеристики PeakForce TUNA™ и количественное наномеханическое картирование PeakForce QNM®, исследователи смогут лучше понять механизмы, приводящие к появлению определенных свойств материалов. Корреляция АСМ и у-раман данные Позволяет проводить совместные локализованные измерения с непревзойденной эффективностью и простотой. Расширенный Режимы АСМ Помогают исследователям лучше понять механизмы, приводящие к появлению определенных свойств материалов. Проверенный Устанавливает новый стандарт производительности для возможностей микрорамановских исследований. Стабильность и гибкость конфигурации Система АСМ-Раман, состоящая из АСМ Dimension Icon® и конфокального рамановского микроскопа исследовательского класса (Horiba, LabRam), располагается на единой жесткой антивибрационной платформе. Такая конфигурация позволяет системе сохранять полную функциональность каждого прибора, обеспечивая оптимальную совместную работу. Например, конфигурация позволяет использовать полный набор обновлений Icon, режимов АСМ и простых в использовании функций, включая эксклюзивную систему ScanAsyst® компании Bruker. Вы можете подобрать наиболее эффективную комбинацию режимов для своих задач.